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如何設(shè)計一個低功耗芯片?

低功耗一直是便攜式電子設(shè)備的關(guān)鍵要求,但近年來,在人工智能、5G、大數(shù)據(jù)中心、汽車等應(yīng)用快速發(fā)展的推動下,對低功耗的需求已經(jīng)擴散到更多的終端產(chǎn)品中。而且隨著芯片中晶體管的集成度越來越高,散熱成為行業(yè)的一大挑戰(zhàn),因此低功耗設(shè)計顯得尤為重要。這也給廣大開發(fā)者提出了不小的挑戰(zhàn)。

低功耗是芯片的重要考量指標(biāo)

隨著電子設(shè)備的大規(guī)模增加,電子產(chǎn)品所消耗的電力也在增長。圖1顯示了全球信息和通信技術(shù)(ICT)所消耗的電力增長情況,按照nature的統(tǒng)計,預(yù)計到2030年,僅ICT所消耗的電力占比將達(dá)到20%以上。因此,芯片設(shè)計者或者制造商都爭取在保證芯片性能的情況下,盡可能做到低碳、節(jié)能和環(huán)保。

圖1:信息通信技術(shù)應(yīng)用的電力需求增長

圖1:信息通信技術(shù)應(yīng)用的電力需求增長

低功耗正成為芯片很重要的一個衡量指標(biāo)。對于智能手機、平板電腦、筆記本電腦和可穿戴設(shè)備等小型電子產(chǎn)品來說,一方面由于其使用電池,控制功耗可以獲得更長的使用時間,一方它們的SoC大多采用先進工藝、設(shè)計比較復(fù)雜,本身就面臨散熱難題,降低功耗也能進一步緩解這方面的挑戰(zhàn)。此外,像臺式機、服務(wù)器這樣的大型系統(tǒng)而言,雖然可以通過使用先進封裝技術(shù)、大型散熱器、風(fēng)扇甚至是液冷技術(shù)等解決散熱問題,但這些會帶來成本的大幅增加,同時出于對全球氣候變化的擔(dān)憂,也要求設(shè)計師們對產(chǎn)品設(shè)計和電源能效進行更合理的權(quán)衡。

低功耗貫穿芯片設(shè)計全流程

為了達(dá)到最佳效果,在SoC設(shè)計的每個階段都必須考慮能源效率問題。如圖2所示,多年來,行業(yè)從業(yè)者開發(fā)了各種各樣的技術(shù)來管理和降低功耗。

圖2:端到端節(jié)能設(shè)計流程

圖2:端到端節(jié)能設(shè)計流程

從最底部的物理層開始看起,首先是材料,常用的硅擁有較高的導(dǎo)熱性,除此之外,砷化鎵(GaAs)也被廣泛應(yīng)用于某些高性能產(chǎn)品領(lǐng)域。

在基礎(chǔ)材料之上,晶體管和其他器件的結(jié)構(gòu)也對能源效率有很大的影響。在芯片開發(fā)的早期階段,工程師們就通過選擇與設(shè)計目標(biāo)最匹配的晶體管來權(quán)衡功率性能區(qū)域(PPA),鰭場效應(yīng)晶體管(FinFET)器件就是一個很典型的例子。1990年代,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨25納米的制程瓶頸,當(dāng)時市場有不少聲音認(rèn)為摩爾定律即將終結(jié), FinFET 晶體管技術(shù)的出現(xiàn)讓半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)突破瓶頸,逐步發(fā)展到現(xiàn)在的7納米、5納米制程技術(shù)。

但要知道的一點是,大部分SoC設(shè)計不是在晶體管級別上進行的,而是在寄存器傳輸級別(RTL)上進行的,或者是使用通用功能的單元庫合成的更高級別的代碼。這其中包含許多“低功耗”單元庫,設(shè)計師可以利用邏輯合成工具快速測試多種單元庫的組合,以滿足PPA目標(biāo)。功耗會影響芯片的電源完整性和熱特性,因此必須在物理設(shè)計階段就解決這些問題,并在signoff期間進行確認(rèn)。

在微架構(gòu)的定義過程中也必須考慮到功耗的問題。常用做法是關(guān)閉當(dāng)前SoC中未被激活的部分,將其置于待機狀態(tài),或使用動態(tài)電壓和頻率縮放(DVFS)來實時控制操作。SoC架構(gòu)師必須定義電源控制結(jié)構(gòu)并提供hooks,以便它們可以由運行在終端系統(tǒng)上的軟件進行操作。

軟件是解決方案的最后一部分。雖然硬件層面可以完全實現(xiàn)電源管理要求,但對于大多數(shù)SoC來說,大部分的工作都有電源感知固件、操作系統(tǒng)(OS)和應(yīng)用程序(apps)來控制。例如,操作系統(tǒng)知道所有正在運行或計劃運行的應(yīng)用程序和任務(wù),因此可以在不需要最高性能的地方做出減少或停止芯片運行的決定。在生產(chǎn)環(huán)節(jié)用于測試裸片和芯片的應(yīng)用程序也需要注意功耗以免引起過熱。

圖2中是低功耗SoC設(shè)計的整個流程。

圖2:低功耗設(shè)計流程

圖2:低功耗設(shè)計流程

看起來要打造一個低功耗設(shè)計所需要非常多工作,但是統(tǒng)一功率格式(UPF)標(biāo)準(zhǔn)的引入,讓整個設(shè)計流程變得更加容易。UPF規(guī)定了SoC電源控制網(wǎng)絡(luò)的許多方面,包括:

電源網(wǎng)絡(luò)和電源開關(guān)

功率/電壓域

這些域之間的電平移位器和隔離單元

功率狀態(tài)和這些狀態(tài)之間的轉(zhuǎn)換

當(dāng)芯片中的電源部分關(guān)閉時,內(nèi)存保留

UPF標(biāo)準(zhǔn)用于描述低功耗要求,基于TCL語言編寫。目前,最新版的UPF為UPF3.0 1801-2018。設(shè)計工具可以讀取該文件,并通過邏輯綜合、放置和路由來指導(dǎo)設(shè)計實現(xiàn)。在虛擬模型中,架構(gòu)工具可以使用UPF反映電源管理的需求,從而幫忙設(shè)計師在宏觀層面進行權(quán)衡。許多驗證工具也會將功耗納入考慮之中。

新思科技的端到端低功耗解決方案

在低功耗設(shè)計方面,新思科技提供以軟件驅(qū)動的電源驗證、探索、分析和優(yōu)化的低功耗解決方案,其產(chǎn)品覆蓋了低功耗設(shè)計的所有流程,包括Platform Architect?、ZeBu?Empower、SpyGlass? Power、PrimePower RTL、Fusion Compile?、Fusion of PrimePower and RedHawk? signoff engines、TestMAX?、PrimePower和Ansys RedHawk等,這些產(chǎn)品構(gòu)成了非常完整、有效的解決方案。

圖3:新思科技的低功耗解決方案

圖3:新思科技的低功耗解決方案

新思科技的開發(fā)流程基于實際的軟件工作負(fù)載來權(quán)衡電源性能,并且在設(shè)計早期就準(zhǔn)確地進行功耗分析,還可以幫助設(shè)計師更快實現(xiàn)PPA目標(biāo)。圖4深入剖析了新思科技的設(shè)計流程細(xì)節(jié),顯示了其中各個組件/產(chǎn)品如何應(yīng)用于不同的設(shè)計階段。

圖4:軟件驅(qū)動功耗的探索、分析和優(yōu)化

圖4:軟件驅(qū)動功耗的探索、分析和優(yōu)化

在架構(gòu)階段,Platform Architect?可以使用抽象模型來探索合適的系統(tǒng)性能和功耗。在RTL模塊開發(fā)的早期階段,SpyGlass Power與VCS?模擬器生成的矢量一起用于功耗分析。隨著RTL模塊接近完善,PrimePower RTL提供了基于嵌入式RTL Architect物理和時間感知預(yù)測技術(shù)以及signoff PrimePower engine的更準(zhǔn)確的分析。當(dāng)SoC或子系統(tǒng)進入仿真階段,ZeBu Empower將用于分析軟件工作負(fù)載,以識別高活躍的窗口(例如峰值功率和高平均功率區(qū)域),然后在PrimePower RTL中進行更詳細(xì)的分析。

隨著設(shè)計進入實現(xiàn)階段,活動窗口的進一步細(xì)化將驅(qū)動Fusion Compiler中的實現(xiàn)。在人工智能引擎DSO的輔助下,RTL到GDSII流程可以快速提供最佳的PPA結(jié)果。ZeBu Empower的活動窗口也推動了PrimePower signoff流程,它的Power Replay功能可以在門級網(wǎng)表上重新利用由VCS RTL仿真產(chǎn)生的向量。PrimePower Golden power signoff包括用于( Glitch)故障分析和調(diào)試的關(guān)鍵技術(shù),用于計時精度的延遲轉(zhuǎn)移,以及用于高級過程節(jié)點的建模。最后,TestMax可以在制造測試過程中用于功耗分析。

除了自定義RTL部分外,每個SoC都會使用商業(yè)IP。而在這方面,新思科技提供廣泛的低功耗IP產(chǎn)品組合,用于處理器、接口、傳感器、模擬/混合信號(AMS)、存儲器和邏輯庫。這些都帶有預(yù)定義的UPF描述,以補充設(shè)計人員提供的文件。圖5詳細(xì)展示了新思科技的低功耗驗證工具。

圖5:新思科技低功耗驗證

圖5:新思科技低功耗驗證


這些驗證可以在從RTL到最終布局網(wǎng)表的任何設(shè)計階段開始進行,也可以在RTL-to-GDSII流程的各個階段直接從Fusion Compiler中調(diào)用這些檢查,以確保在芯片實現(xiàn)的過程中達(dá)到低功耗要求。VC SpyGlass?RTL靜態(tài)signoff平臺還可以讀取UPF,以便檢查時鐘域交叉(CDC)和重置域交叉(RDC)實例是有低功耗要求的。由Formality?執(zhí)行的邏輯等價性檢查(LEC)和由VC Formal?執(zhí)行的分析驗證也是如此。ZeBu仿真系統(tǒng)和HAPS?原型解決方案都考慮了UPF。所有這些工具和技術(shù)都將Verdi作為統(tǒng)一的調(diào)試平臺共享,并提供許多支持功率的調(diào)試特性。最終在功能驗證的所有階段,對低功耗要求規(guī)范都有統(tǒng)一的要求。

結(jié)論

許多SoC應(yīng)用需要最小的功耗來延長電池壽命、滿足市場需求。但是,PPA的總體目標(biāo)不能僅僅集中在功耗上,更應(yīng)該有一個端到端的設(shè)計流程來提高電源效率。新思科技的全流程低功耗解決方案將為整個芯片行業(yè)在進行低功耗全過程設(shè)計中提供極大的幫助。


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